LCR表基本量測原理須知

發布時間：2019-06-28                3038

LCR表基本量測原理須知

       在磁性元器件設計的領域裏，最常用到的量測儀器便是LCR表。對於其量測頁麵所顯示的許多L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z/θ量測結果，可能在許多使用到此類儀器的工程人員腦海中常會浮現出一些問號---電感、阻抗、Q值…是怎麽量出來的？一般LCR表測試頻率在2MHz內，采用的方式多是四端子自動平衡電橋法。本文以HP4284A為例，以簡化的測試回路來呈現四端子Lc-Lp-Hp-Hc測試點所在位置，藉由測試信號源Vosc與待測物(DUT)的端電壓Vm的關係引出LCR表裏的偵測元件所直接量測的三個參數。再透過這三個參數搭配待測器件的等效串、並聯模型，引導出其量測頁麵所顯示的L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z是如何在儀表內按相關設定的數學轉換公式，而得以間接被計算出來的。

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